专利类型:
相变材料专利导航
公开(公告)号:
CN104716258B
申请日:
2013-12-12
申请局:
CN
摘要:
本发明公开了一种半导体器件及其制作方法。所述方法包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成介电层,在所述介电层中形成有凹槽;在所述凹槽内和所述介电层上形成相变材料层,所述相变材料层填满所述凹槽;在所述相变材料层上形成保护层;以及执行化学机械抛光工艺,去除所述保护层和所述凹槽以外的相变材料层。根据本发明的制作半导体器件的方法,在相变材料层的上面形成保护层。该保护层在化学机械抛光过程中覆盖相变材料层,可以保护相变材料层,避免在抛光过程中将相变材料层完全拔出。
原始专利权人:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
当前专利权人:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司