专利类型:
相变材料专利导航
公开(公告)号:
CN103762308B
申请日:
2014-01-09
申请局:
CN
摘要:
本发明涉及多态镓锑‑硒化锡多层纳米复合相变材料及其制备和应用,为Ga30Sb70/SnSe2纳米复合多层相变薄膜,由SnSe2薄膜和Ga30Sb70薄膜交替排列成多层薄膜结构,其中SnSe2薄膜的厚度为5~35nm,Ga30Sb70薄膜的厚度为5~35nm;Ga30Sb70/SnSe2纳米复合多层相变薄膜的总厚度为50‑70nm,采用磁控溅射法制备得到,可以应用在具有多态性能的高密度相变存储器中。与现有技术相比,本发明具有多级相变特性,能大大提高PCRAM的存储密度;具有更高的晶态及非晶态电阻,能降低PCRAM的操作功耗;相比传统相变存储材料热稳定性提高,晶化速度加快。
原始专利权人:
同济大学
当前专利权人:
同济大学