专利类型: 相变材料专利导航公开(公告)号: CN100505363C申请日: 2006-08-29申请局: CN摘要: 相变存储器单元包括半导体主体上相变材料的相变层。硬掩模结构在相变层上形成,且抗蚀掩模在硬掩模结构上形成。硬掩模通过使用抗蚀掩模成形硬掩模结构而形成。相变层使用硬掩模成形。抗蚀掩模在成形相变层之前被去除。原始专利权人: 奥沃尼克斯股份有限公司当前专利权人: 奥沃尼克斯股份有限公司