在相变存储单元中形成相变层

专利类型: 
相变材料专利导航
公开(公告)号: 
CN100505363C
申请日: 
2006-08-29
申请局: 
CN
摘要: 
相变存储器单元包括半导体主体上相变材料的相变层。硬掩模结构在相变层上形成,且抗蚀掩模在硬掩模结构上形成。硬掩模通过使用抗蚀掩模成形硬掩模结构而形成。相变层使用硬掩模成形。抗蚀掩模在成形相变层之前被去除。
原始专利权人: 
奥沃尼克斯股份有限公司
当前专利权人: 
奥沃尼克斯股份有限公司