材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪

专利类型: 
相变材料专利导航
公开(公告)号: 
CN201141843Y
申请日: 
2007-10-23
申请局: 
CN
摘要: 
一种材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪,涉及激光干涉测量领域,本实用新型主体部分为:SIOS-SP120D激光干涉仪、高真空加热炉、rbhS104调理板、rbh8223h数据采集卡、恒流微机电源与计算机。SIOS-SP120D激光干涉仪设有He-Ne激光发射盒,并安装在高真空加热炉一侧,高真空加热炉炉壁一端设有一玻璃窗口正对着激光发射盒。高真空加热炉内安装样品夹具,样品夹具与激光发射盒的激光发射口相距在60-150mm。高真空加热炉炉内放置被测样品的一侧安置一K型热电偶,热电偶与rbhS104调理板相连后再与rbh6223h数据采集卡相连,rbh6223h数据采集卡和SIOS-SP120D激光干涉仪同时与计算机相连。本实用新型由于采用两束同频激光干涉,完全消除了测量膨胀量时的系统误差,可以精确地测量出材料的热膨胀性,并可以准确测量材料相变过程。
原始专利权人: 
北京科技大学
当前专利权人: 
北京科技大学